Программа школы


II Балтийская Школа по физике твердого тела.

Методы и инструменты рентгеновских исследований.


                 3 октября. Источники рентгеновского излучения.

 

08.30-09.00

Регистрация участников

228 ауд.

 

 

 

09.00-09.15

Открытие

227 ауд.

А. Гойхман

БФУ им. И. Канта, Калининград

Л*

09.20-10.20

Острофокусное рентгеновское излучение. Синхротронные источники

227 ауд.

Г. Кулипанов

ИЯФ СО РАН, Новосибирск

Л

10.25-11.25

Переход на источники 4 поколения. Европейский источник синхротронного излучения  (ESRF)

 

227 ауд.

 

А. Снигирев

ESRF, Гренобль, Франция

11.25-11.55 Кофе-брейк

Л

12.00-12.35

Гамбургский синхротрон PETRA III. Основные особенности и параметры

227 ауд.

Д. Новиков

DESY, Гамбург, Германия

Л

12.40-13.40

Synchrotron X-ray imaging for the study of solidification in metallic alloys

227 ауд.

R. Mathiesen

Norwegian University of Science and Technology, Тронхейм, Норвегия

13.50-14.50 Обед

мЛ

**

14.30-15.10

Введение в  технику рентгеновского эксперимента

227 ауд.

Д. Новиков

DESY, Гамбург, Германия

П*

15.15-15.30

Презентация комплекса Synchrotron Like на базе острофокусного источника MetalJet

227 ауд.

А. Гойхман

БФУ им. И. Канта, Калининград

Л

15.30-16.15

Micro-focused X-ray radiation. Micro-focused liquid metal sources. Presentation of MetalJet Excillum Source

227 ауд.

G. Iohansson

Excillum, Стокгольм, Швеция

16.15-17.15   Демонстрация рентгеновского научно-исследовательского комплекса инновационного парка БФУ им. И. Канта:

Лекторы школы: демонстрация острофокусного рентгеновского стенда (цокольный этаж)

Слушатели по группам в соответствии с цветом:

-  лаб. №119 Bruker D8 Discover – многофункциональный современный рентгеновский дифрактометр;

-  лаб. №122 Многофункциональная прецизионная измерительная установка с открытой архитектурой (X-ray MultiFunction Station (XMFS);

- (корп. № 10а) Микрофокусный рентгеновский диагностический томограф YXLON Y.Cheetah

группа «Red»:                       группа «Blue»:                       группа «Green»:

1)  лаб. №119                          1)  лаб. №122                           1)  корп. № 10а

2)  лаб. №122                          2)  корп. № 10а                        2)  лаб. №119

3)  корп. № 10а                       3)  лаб. №119                           3)  лаб. №122

17.30-23.00 Прием по поводу открытия II Балтийской школы по ФТТ (Welcome party)

17.30 Отъезд автобусов из Калининграда

22.00-22.30 Отъезд автобусов из Зеленоградска

*Л – лекция, П – презентация

*мЛ – мини-лекция во время обеда для студентов, аспирантов и молодых ученых


4 октября. Рентгеновская оптика и микроскопия.

Л

12.45-13.45

Фокусирующая рефракционная и дифракционная оптика

227 ауд.

А. Снигирев

ESRF, Гренобль, Франция

Л

13.50-14.30

Когерентная рентгеновская микроскопия для исследования мезоскопических материалов

227 ауд.

И. Снигирева

ESRF, Гренобль, Франция

14.30-15.30 Обед

Л

15.30-16.15

Микрорадианная рентгеновская дифракция на коллоидных кристаллах

227 ауд.

А. Петухов

Utrecht University, Нидерланды

16.15-17.30 Демонстрации:

Группа «Red»: Когерентная микроскопия и фокусирующая рентгеновская оптика. (Цокольный этаж)

Группа «Green»: Методы исследования наногетероструктур на лабораторных приборах. (Лаб. 119, 227)

Группа «Blue»: Рентгеновская рефлектометрия и спектроскопия (Лаб. 122)

17.30-19.30 Постерная сессия, фуршет (холл)

 


5 октября. Дифракция.

Л

09.00-09.45

Метод томографии: от измерительной схемы к задаче реконструкции изображения внутренней структуры объекта (продолжение сессии микроскопии)

227 ауд.

М. Чукалина

ИПТМ РАН, Черноголовка, Москва

Л

09.50-10.35

Основные      методы    рентгеноструктурных    исследований наноструктур на лабораторных приборах.  Измерения  структурных   параметров   нанокластеров  (параметра  кристаллической  решетки, фрактального параметра и размеров кластера и агрегатов)

227 ауд.

М. Байдакова

ФТИ им. Иоффе, Санкт-Петербург

Л

10.40-11.25

Методы исследования наногетероструктур  на лабораторных приборах

227 ауд.

11.25-11.55 Кофе-брейк

Л

12.00-12.45

Динамическая дифракция рентгеновских лучей в кристаллах

227 ауд.

В. Бушуев

МГУ, Москва

Л

12.50-13.15

Особенности дифракции фемтосекундных импульсов рентгеновского лазера на свободных электронах

227 ауд.

Л

13.20-14.20

Статистическая теория рентгеновской дифракции в многослойных наноструктурированных средах

227 ауд.

В. Пунегов

НЦ УрО РАН, Коми

14.20-15.20 Обед

15.20-16.45 Демонстрации:

Группа «Green»: Когерентная микроскопия и фокусирующая рентгеновская оптика. (Цокольный этаж)

Группа «Blue»: Методы исследования наногетероструктур на лабораторных приборах. (Лаб. 119, 227)

Группа «Red»: Рентгеновская рефлектометрия и спектроскопия (Лаб. 122)

17.00 Отъезд автобусов в г. Светлогорск

П

18.00-18.30

New developments in refractive x-ray optics

Конференц-зал гостиничного комплекса «Русь»

B. Lenleger

RWTH, Rxoptics, Аахен, Германия

Банкет 18.00- 00.00 (Гостиничный комплекс Русь, г. Светлогорск)

 

 


6 октября. Рентгеновская спектроскопия и малоугловое рассеяние.

Л

09.00-09.45

Спектроскопия рентгеновского поглощения для определения параметров наноразмерной атомной и электронной структуры материалов

227 ауд.

А. Солдатов

Южный федеральный университет, Россия

Л

09.50-10.35

Рентгеновский флуоресцентный анализ. Тенденции развития систем. Интерпретации спектральных данных

227 ауд.

С. Савельев

СПбГУ, Санкт-Петербург, Россия

Л

10.40-11.25

Рентгеновская рефлектометрия тонкопленочных наноструктур

227 ауд.

А. Турьянский

ФИАН им. Лебедева, Москва

11.25-11.55  Кофе-брейк

Л

12.00-13.00

Hard X-Ray Microscopy: Multiscale structural mapping

227 ауд.

H. Poulsen

DTU, Копенгаген Дания

Л

13.05-14.05

Исследование поверхностей в скользящей геометрии. Методы: Рефлектометрия, GID и GISAXS

227 ауд.

О. Коновалов

 

ESRF, Гренобль, Франция

14.10-15.10 Обед

15.10-16.10 Демонстрации:

Группа Blue: Когерентная микроскопия и фокусирующая рентгеновская оптика. (Цокольный этаж)

Группа Red: Методы исследования наногетероструктур на лабораторных приборах. (Ауд. 119, 227)

Группа Green: Рентгеновская рефлектометрия и спектроскопия (Ауд. 122)

В*

Вечернее заседание

Аналитические и численные методы теории рентгеновских преломляющих линз

 

В. Кон

НИЦ Курчатовский Институт, Москва.

В

Вечернее заседание

Partially-Coherent Wave front Propagation Calculations for X-Ray Sources

 

 

 

O. Чубарь

Brokhaven National Laboratory, Нью-Йорк, США

 

*Вечернее заседание по теоретическим аспектам рентгеновских источников и рентгеновской оптики

Блоки демонстраций

 

Когерентная микроскопия и фокусирующая рентгеновская оптика.

(Цокольный этаж)

1

Фокусирующие свойства преломляющей оптики. Составные Рефракционные Линзы

А. Снигирев

 

ESRF, Гренобль, Франция

2

Оптические свойства зонных пластинок Френеля (FZP):

- дифракционные порядки зонной пластинки.

- муаровый контраст на двух зонных пластинок

3

Рентгеновская микроскопия в проекционной схеме на источнике MetalJet

 

Методы исследования наногетероструктур на лабораторных приборах.

(Ауд. 119, 227)

1

Наблюдение картины дифракции от монокристалла на 2D-детекторе

М. Байдакова

ФТИ им. Иоффе, Санкт-Петербург

2

Рентгеновская дифракция кристаллических объектов

 

Рентгеновская рефлектометрия и спектроскопия (Ауд. 122)

1

Исследование толщины слоев и размытия границ раздела многослойных структур

А. Турьянский

ФИАН им. Лебедева, Москва

2

Исследование состава материала с помощью методики рентгено-флуорисцентного анализа по спектрам РФА

С. Савельев

СПбГУ, Россия

3

Эксперименты XAFS. Определение  ближнего атомарного порядка по тонкой структуре спектров поглощения

А. Турьянский

ФИАН им. Лебедева, Москва

  Программа может изменяться, следите за обновлениями.